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tanδ(DF)的測試條件
2024-01-04
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1.測試電壓和頻率
根據(jù)IEC-60384-1標(biāo)準(zhǔn),tanδ(DF)測試條件跟其容值的測試條件一樣,通常 LCR 測試儀可以同時(shí)測量容值(CP)和損耗因數(shù)(DF)。Tanδ(DF)具體測試條件請參照Ⅰ類陶瓷絕緣介質(zhì)(NPO)測試條件和Ⅱ類和Ⅲ類陶瓷絕緣介質(zhì)(X7R/X5R/Y5V)測試條件。關(guān)注電容領(lǐng)域,專業(yè)知識分享,提供穩(wěn)定、可靠的電容檢測服務(wù),賦能中國制造業(yè)升級! 電容檢測+V:18676748747。
2.測量儀器要求
針對I類陶瓷絕緣介質(zhì)(NPO測量設(shè)備誤差不超過3x10-4,針對陶瓷絕緣介質(zhì)測量設(shè)備誤差不超過 1x10-3。目前測量 MLCC 較為權(quán)威的設(shè)備是德科技的 LCR 測試儀,型號為E4980A(替代安捷倫HP4284A 和HP4287A),其配套測試夾具型號為 16034E/G。電容檢測,怎么看出貼片電容失效,電容失效怎么辦,電容測試。
暫無數(shù)據(jù)