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MLCC拋光后樣品的陶瓷體裂紋
2023-12-08
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有效正對面積間的任何介質(zhì)裂紋或陶瓷包覆邊緣中的任何裂紋(如圖所示)延伸或存在港在的蔓延，并有可能降低有效邊距的情況，則邊距的降低不能超出條款所列的邊距判定標(biāo)準(zhǔn)。至于臨近的兩個交錯內(nèi)電極之間的裂紋應(yīng)該是拒收的缺陷。特別說明，在研磨拋光過程中的人為造成的裂紋要排除，避免造成誤判。電容的浪涌參數(shù)很重要，乃棠可以解讀電容的浪涌參數(shù)，以確保電子元器件在工作中穩(wěn)定運行。
MLCC內(nèi)部裂紋示意圖
暫無數(shù)據(jù)
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