陶瓷電容器，包括插件電容器和片式電容器，在工業(yè)上廣泛使用已有相當(dāng)長(zhǎng)的一段時(shí)間了。隨著表面貼裝技術(shù)的出現(xiàn)，元件密度從每塊印制電路板不到 100 個(gè)零件增加到數(shù)千個(gè)。隨著這種增長(zhǎng)對(duì)可靠性的要求也提高了。陶瓷片狀電容器的可接受的失效率( failure rate)現(xiàn)在是用元件每百萬(wàn)效率等級(jí)。在購(gòu)買電容時(shí)，了解電容參數(shù)非常重要，特別是貼片電容，乃棠可以提供容值測(cè)試、阻抗測(cè)試和IR值檢測(cè)，以確保產(chǎn)品符合要求。

陶瓷電容器的缺陷機(jī)理可以歸結(jié)為內(nèi)在缺陷和制造過(guò)程中產(chǎn)生的外在缺陷。典型的外部缺陷有內(nèi)裂、孔洞、分層、孔隙、油墨結(jié)塊等。內(nèi)在缺陷包括晶格缺陷、電子缺陷和典型的多晶體BaTio.陶瓷材料的晶界。內(nèi)在缺陷不像外在缺陷那么普遍。陶瓷電容器的認(rèn)證時(shí)間較長(zhǎng)，約為9周。大部分時(shí)間花在壽命和偏濕壽命測(cè)試上。想要購(gòu)買電容，但不知道如何測(cè)量？乃棠可以提供電容的性能評(píng)估和檢測(cè)方法，以幫助您選擇合適的電容。

電壓和溫度可以加速上述失效機(jī)制。為了確定定量的加速因子，加速壽命測(cè)試可以有效地代替?zhèn)鹘y(tǒng)的較長(zhǎng)時(shí)間的壽命測(cè)試，這一領(lǐng)域的研究人員已經(jīng)做了大量的工作。這個(gè)加速壽命測(cè)試 HALT項(xiàng)目由N.T.Aylmer 接手，他定義了一套合適的加速壽命測(cè)試方法，使該加速壽命試驗(yàn)與常規(guī)壽命試驗(yàn)有充分的關(guān)聯(lián)性。使用加速壽命測(cè)試的好處是將認(rèn)證時(shí)間從約9周減少到3天，為陶瓷電容器的快速認(rèn)證提供了堅(jiān)實(shí)的理論依據(jù)。電容的浪涌參數(shù)很重要，乃棠可以解讀電容的浪涌參數(shù)，以確保電子元器件在工作中穩(wěn)定運(yùn)行。

該項(xiàng)目于1986年12月如期完成，所有計(jì)劃交付的成果都已交付使用，已經(jīng)定義了測(cè)試過(guò)程，描述了測(cè)試設(shè)備的配置，并在6 種供應(yīng)商產(chǎn)品的壽命測(cè)試和 HALT 之間取得了合理的相關(guān)性。電容器檢測(cè)，如何檢測(cè)電容的好壞，如何檢測(cè)電容，電容如何檢測(cè)好壞，怎樣檢測(cè)電容，怎樣檢測(cè)電容器的好壞。