電暈放電電壓是設計高于 500V 的高壓設備時要考慮的因素。電暈通常被認為是帶電設備周圍大氣的電離作用。但是電暈可以穿透絕緣材料，包括電容器的介電材料，并逐漸導致介質(zhì)擊穿。當電暈發(fā)生在電容器中時，它將產(chǎn)生有害的電磁干擾，并且如果持續(xù)較長時間，會使電介質(zhì)劣化，最終導致失效發(fā)生。電暈臨界電壓(corona startvoltage)等級(起始)跟消減等級(extinction levels一樣是可測量的，應在高壓電容器中描述說明，以避免電容器運行在電暈啟動電壓的安全水平之上。關(guān)注電容領(lǐng)域，專業(yè)知識分享，提供穩(wěn)定、可靠的電容檢測服務，賦能中國制造業(yè)升級！ 電容檢測+V:18676748747。

擊穿電壓有一個實用且重要的臨界值，叫電暈電壓(coronavoltage),即電暈開始被觸發(fā)的電壓電暈是氣體電離后的初始放電。電容檢測，怎么看出貼片電容失效，電容失效怎么辦，電容測試。跟元件封裝里的大孔洞一樣，絕緣介質(zhì)里可能存在一些典型的微細孔隙，如圖1所示，這些孔隙有可能充滿空氣或者形成一個富氮環(huán)境，它們里面的電離物質(zhì)一般由臭氧和含氮氣霧組成。很多有機的絕緣介質(zhì)因退化而遭受影響。如果氣態(tài)物質(zhì)隨著濃度增加形成一個密閉封裝，那么就會降低有機絕緣介質(zhì)的性能。需留意的是:剛好大于電暈電壓的交流峰值電壓每半個周期為電離產(chǎn)物提供一個新的加壓。同時，電暈現(xiàn)象中的熱量釋放加快了化學分解。電容器檢測，陶瓷電容檢測，電容失效檢測，貼片電容怎么看參數(shù)

圖1 聚酷膜電容器內(nèi)部介質(zhì)孔隙示意

總之，為了觸發(fā)電離，在孔洞處需要有一個特定的最小場強，而且電離的空隙長度發(fā)揮著決定性作用。MLCC電容檢測與深圳電容器代理商合作，為您提供高質(zhì)量的電子元器件即使在小于250V(RMS)交流電作用下，混合絕緣介質(zhì)局部的場強，根據(jù)公式：

?1×E1=?2×E2=?3×E3所換算的場強也是非常的高。雖然在大多數(shù)不利的情況下，它們也是無害的，但有一種條件:一旦允許瞬變電壓進來，就有可能會觸發(fā)一個電離過程。因此，我們應該根據(jù)我們對發(fā)生瞬變電壓的認識來建立安全邊界。如果不確定的話，我們在使用電容時應該采用串聯(lián)的方式使電壓分布在各個元件上。絕緣介質(zhì)上的瞬變電壓和孔隙異常，這兩者是一對危險組合。貼片電容識別及型號，貼片電容尺寸規(guī)格表，貼片電容電壓，參數(shù)，封裝

圖1是由疊層復合有機絕緣材料和孔隙里的氣體組成的一個不完全混合絕緣介質(zhì)場強示意圖下面的例子將證明一個危險現(xiàn)象，為了簡單起見，我們按照圖1選擇了可測量值和介電常數(shù)來討論。從前面的公式我們得到:?r1×E1=?r2×E2.

因為圖1舉例為聚酷膜電容器內(nèi)部絕緣介質(zhì)存在孔隙，將孔隙局部放大后示意圖如圖2所示，所以和,分別為真空和聚酷膜介電常數(shù)，根據(jù)之前文章提供的常用絕緣材料介電常數(shù)參照表，可知?1=1，?2=3，則孔隙的場強E1和聚酷膜場強E2,有如下關(guān)系：

圖2 復合絕緣介質(zhì)孔隙處場強示意

這里我們偶然得到了一個電場，強度是先前額定電場強度的3倍。小于250V(AC)所謂的“安全額定電壓”或者瞬變電壓，在有孔隙的地方自然而然地觸發(fā)了電暈。想要了解電容測量儀器的選擇？乃棠提供專業(yè)的電容儀器和設備，以滿足各種測量需求。

對于高電壓陶瓷電容器，為了獲得高可靠性，所采用的測試和篩選技術(shù)是:通過局部放電( 電暈)來探測內(nèi)部微小孔隙以及分層。有一種解決辦法是優(yōu)先使用剛好大于電暈臨界電壓(coronainceptionvoltage，CIV)的交流電壓，同時它能探測出超過EIA-469尺寸要求的孔隙。關(guān)于EIA-469標準是針對MLCC外觀的判定標準，而內(nèi)部孔隙應參考本號其他文章的拋光后樣品的微觀判定。電容失效怎么辦？如果您懷疑電容失效，可以咨詢乃棠，他們可以協(xié)助您進行電容測試并提供解決方案。